CEM DT-156 tykkelsesmåler

kr 1 110,00
(kr 1 387,50 inkl. mva)

Tykkelsesmåler med automatisk dobbel måleteknologi.

Leveringstid: 2-3 uker Varenummer: 32007 Kategorier: ,

Beskrivelse

CEM DT-156 tykkelsesmåler

CEM DT-156 er en kompakt og presis tykkelsesmåler utviklet for rask og nøyaktig måling av belegg på både ferromagnetiske og ikke-ferromagnetiske underlag. Instrumentet kombinerer automatisk deteksjon av måleprinsipp med høy brukervennlighet, og er et ideelt verktøy for alt fra kvalitetskontroll i industri og verksted til inspeksjon i bil-, skips- og bygningsbransjen.

Ved hjelp av både magnetisk induksjon og virvelstrømprinsippet (eddy current) måler DT-156 ikke-magnetiske belegg som maling, lakk og sink på stål, samt isolerende belegg på ikke-jernholdige metaller som aluminium og kobber. Den støtter også måling av ikke-jernholdige metallbelegg på isolerende underlag.

Instrumentet har en intuitiv menysystemstruktur, flere kalibreringsmetoder og avanserte statistikkfunksjoner som gjør det enkelt å utføre og dokumentere presise målinger.

Nøkkelfunksjoner

  • Dobbel måleteknologi: Automatisk valg av magnetisk induksjon eller virvelstrømprinsipp
  • Bredt bruksområde:
    • Ikke-magnetiske belegg (maling, sink) på stål
    • Isolerende belegg (maling) på ikke-jernholdige metaller
    • Ikke-jernholdige metallbelegg på isolerende underlag
  • Fleksibel målemodus: Kontinuerlig (CONTINUE) eller enkel (SINGLE) måling
  • Arbeidsmodus: Direkte måling (DIRECT) eller gruppert måling (GROUP)
  • Statistikk i sanntid: Gjennomsnitt (AVG), maks/min-verdi, antall målinger, standardavvik
  • Enkel kalibrering: Énpunkt-, topunkt- og grunnkalibrering
  • Minne: Lagrer opptil 400 målinger (80 direkte + 320 grupperte)
  • Varsler: Justerbar høy/lav alarm for alle moduser
  • PC-tilkobling: USB-grensesnitt for programvare og datalagring
  • Driftsikkerhet: Lavbatteri- og feilmeldingsindikasjon

Tekniske spesifikasjoner

Egenskap F (magnetisk induksjon) N (virvelstrøm)
Måleområde 0–1250 µm 0–1250 µm
Nøyaktighet ±(3 % + 1 µm) ±(3 % + 1,5 µm)
Repetérbarhet ±(1 % + 1 µm) ±(1 % + 1 µm)
Oppløsning 0,1 µm 0,1 µm
Min. krumningsradius 1,5 mm 3 mm
Min. måleflate 7 mm 5 mm
Kritisk underlagstykkelse 0,5 mm 0,3 mm

Har du spørsmål? Ikke nøl med å kontakte oss – vi hjelper deg med å finne den optimale løsningen for dine behov. Hvis du ikke finner et spesifikt produkt eller system på våre nettsider, er du alltid velkommen til å ta kontakt.

Tilleggsinformasjon

Vekt 1 kg
Produsent