CEM DT-156 tykkelsesmåler
kr 1 110,00
(kr 1 387,50 inkl. mva)
Tykkelsesmåler med automatisk dobbel måleteknologi.
Beskrivelse
CEM DT-156 tykkelsesmåler
CEM DT-156 er en kompakt og presis tykkelsesmåler utviklet for rask og nøyaktig måling av belegg på både ferromagnetiske og ikke-ferromagnetiske underlag. Instrumentet kombinerer automatisk deteksjon av måleprinsipp med høy brukervennlighet, og er et ideelt verktøy for alt fra kvalitetskontroll i industri og verksted til inspeksjon i bil-, skips- og bygningsbransjen.
Ved hjelp av både magnetisk induksjon og virvelstrømprinsippet (eddy current) måler DT-156 ikke-magnetiske belegg som maling, lakk og sink på stål, samt isolerende belegg på ikke-jernholdige metaller som aluminium og kobber. Den støtter også måling av ikke-jernholdige metallbelegg på isolerende underlag.
Instrumentet har en intuitiv menysystemstruktur, flere kalibreringsmetoder og avanserte statistikkfunksjoner som gjør det enkelt å utføre og dokumentere presise målinger.
Nøkkelfunksjoner
- Dobbel måleteknologi: Automatisk valg av magnetisk induksjon eller virvelstrømprinsipp
- Bredt bruksområde:
- Ikke-magnetiske belegg (maling, sink) på stål
- Isolerende belegg (maling) på ikke-jernholdige metaller
- Ikke-jernholdige metallbelegg på isolerende underlag
- Fleksibel målemodus: Kontinuerlig (CONTINUE) eller enkel (SINGLE) måling
- Arbeidsmodus: Direkte måling (DIRECT) eller gruppert måling (GROUP)
- Statistikk i sanntid: Gjennomsnitt (AVG), maks/min-verdi, antall målinger, standardavvik
- Enkel kalibrering: Énpunkt-, topunkt- og grunnkalibrering
- Minne: Lagrer opptil 400 målinger (80 direkte + 320 grupperte)
- Varsler: Justerbar høy/lav alarm for alle moduser
- PC-tilkobling: USB-grensesnitt for programvare og datalagring
- Driftsikkerhet: Lavbatteri- og feilmeldingsindikasjon
Tekniske spesifikasjoner
Egenskap | F (magnetisk induksjon) | N (virvelstrøm) |
Måleområde | 0–1250 µm | 0–1250 µm |
Nøyaktighet | ±(3 % + 1 µm) | ±(3 % + 1,5 µm) |
Repetérbarhet | ±(1 % + 1 µm) | ±(1 % + 1 µm) |
Oppløsning | 0,1 µm | 0,1 µm |
Min. krumningsradius | 1,5 mm | 3 mm |
Min. måleflate | 7 mm | 5 mm |
Kritisk underlagstykkelse | 0,5 mm | 0,3 mm |
Har du spørsmål? Ikke nøl med å kontakte oss – vi hjelper deg med å finne den optimale løsningen for dine behov. Hvis du ikke finner et spesifikt produkt eller system på våre nettsider, er du alltid velkommen til å ta kontakt.
Tilleggsinformasjon
Vekt | 1 kg |
---|---|
Produsent |